FTIR-12型傅立葉紅外光譜儀是一種通用型的儀器，配置適中，是基礎(chǔ)科研以及以及常規(guī)檢測必備分析工具。FTIR-12型樣品室是標準大尺寸，可以適用多種配套附件和裝置，包括ATR衰減全反射附件, 水平衰減全反射附件, 漫反射附件、鏡面全反射附件、恒溫氣體樣品池等，也可以實現(xiàn)TG-FTIR熱重紅外連用技術(shù)等。
FTIR-12型主要技術(shù)指標：
光譜范圍, cm -1 | 400～7800 |
光譜分辨率, cm -1 | 1 |
信噪比, 1min, 4cm -1 | >20000 |
圖譜采集時間, 4cm -1 | 1 sec |
分束器材料 | KBr Ge鍍層 |
檢測器 | LiTaO3 |
樣品室尺寸,mm | 150х190х170 |
儀器尺寸, mm | 520х370х250 |
儀器重量, kg | 28 |
FTIR-12型傅立葉紅外光譜儀常規(guī)檢測適用標準：
ASTM D 4053、ASTM、ASTM D 5845、ISO 7106、ISO 4650、ISO 9622、ISO 13884、ASTM D 2124、ASTM D 2238、ASTM D 2357、ASTM D 2702、ASTM D 3124、ASTM D 3414、ASTM D 3594、ASTM D 3677、ASTM D 3900、ASTM D 3921、ASTM D 4660、ASTM D 5576、ASTM D 5594、ASTM D 5670、ASTM D 6047、ASTM D 6248、ASTM D 6342、SEMI MF1188、SEMI MF1391、SEMI MF951、SEMI MF95
部分附件描述：
多次ATR衰減全反射附件 用于研究液體、粉末、薄膜的化學(xué)成分。該方法大幅度簡化了制樣過程，適用于快速檢測產(chǎn)品質(zhì)量。 主要性能： - 7次內(nèi)部反射保證對低濃度高靈敏的測定； - 標準材料為ZnSe，可以定制Ge或者Si； - 吸收層選用厚度為1~50微米； - 光譜測量時間1~2分鐘。 |
|
鏡面反射附件 鏡面反射紅外光譜法是用于研究薄膜鍍層的一種理想的分析方法。無需樣品預(yù)處理就可以進行表面和薄膜的無損檢測并測定薄膜厚度。根據(jù)鍍層厚度選用相應(yīng)的鏡面反射的角度，我供應(yīng)附件從10到80°反射角。 |
|
片狀糊狀樣品分析附件 |
|
液體樣品分析附件 |
|
氣體樣品分析附件 |
|
返回
