BOK-F連續可變角附件是一款高性能研究級別的鏡反射附件，其獨特的可變角光學設計使其可以控制光束穿透樣品的深度，進行深度剖面研究。通過改變BOK-F連續可變角附件的入射角可以優化從單分子膜到相對較厚的薄膜的實驗過程。 典型應用包括深度剖面、單分子膜和超薄膜分析、聚合物取向測定和光譜電化學等。同時我們也是國內唯一的變角電化學附件供應商（半球形ATR/MEMS硅ATR），可完全取代Pike等國外附件，主要應用于電池研究，界面化學研究等。
特點：
1、30-80°入射角連續可調
2、半球形ATR晶體,連續變角掃描時無需更換可配置
3、可配置SIE表面增強型紅外光譜晶體
4、四種晶體材料( Si、znse、ge、caf2)可選彈簧式金觸點電極設計
5、采用PEEK和玻璃池身,耐腐蝕可選高壓夾具,用于薄膜、涂層或粉未取樣
BOK-F連續可變角附件使用表面增強紅外光譜技術(ATR- SEIRAS)替代半球晶體,極大的減少光譜吸收損失,拓展應用范圍,為客戶在中遠紅外區進行測試提供了極大的便利。BOK-F連續可變角附件能夠對帶電金屬溶液界面進行基礎研究,并在分子自組裝、界面傳感和下一代能源解決方案中應用。
返回
